加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

横向SOI半导体器件及其制造方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200680048427.2
  • IPC分类号:H01L29/78;H01L29/861
  • 申请日期:
    2006-11-17
  • 申请人:
    丰田自动车株式会社
著录项信息
专利名称横向SOI半导体器件及其制造方法
申请号CN200680048427.2申请日期2006-11-17
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2009-02-25公开/公告号CN101375402
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L29/78
?
IPC结构图谱:
IPC分类号H;0;1;L;2;9;/;7;8;;;H;0;1;L;2;9;/;8;6;1查看分类表>
申请人丰田自动车株式会社申请人地址
日本爱知县 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人丰田自动车株式会社当前权利人丰田自动车株式会社
发明人泷雅人;川上昌宏;早川清春;石子雅康
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所代理人秦晨
摘要
二极管(10)包括SOI衬底,其中堆叠有半导体衬底(20),绝缘膜(30)和半导体层(40)。底部半导体区域(60)、中间半导体区域(53)和表面半导体区域(54)在半导体层(40)中形成。底部半导体区域(60)包括高浓度的n型杂质。中间半导体区域(53)包括低浓度的n型杂质。表面半导体区域(54)包括p型杂质。还公开了LDMOS晶体管。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供