用于物品安全检查的扫描成像系统

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201721243114.4
IPC分类号：G01N23/04;G01N23/046
申请日期：
2017-09-26
申请人：
同方威视技术股份有限公司;清华大学

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引证文献

著录项信息

专利名称	用于物品安全检查的扫描成像系统
申请号	CN201721243114.4	申请日期	2017-09-26
法律状态	放弃专利权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料 G01N23/04 并形成材料的图片〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4;;;G;0;1;N;2;3;/;0;4;6查看分类表>
申请人	同方威视技术股份有限公司;清华大学	申请人地址	北京市海淀区双清路同方大厦A座2层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	同方威视技术股份有限公司,清华大学	当前权利人	同方威视技术股份有限公司,清华大学
发明人	张丽;陈志强;沈乐;黄清萍;孙运达;金鑫;丁辉;邢宇翔
代理机构	北京东方亿思知识产权代理有限责任公司	代理人	彭琼

摘要

本实用新型公开了一种用于物品安全检查的扫描成像系统。该扫描成像系统包括：传送单元，用于使所述物品沿所述传送单元的传送方向移动；多个射线源，所述多个射线源位于所述传送单元一侧，且沿与所述传送单元所在平面相垂直的方向依次设置，所述多个射线源交替发出射线束以形成扫描区域；位于所述传送单元另一侧的线性探测器阵列，所述线性探测器阵列用于探测在所述物品穿过所述扫描区域的过程中，所述多个射线源发出的射线束透过所述物品后形成的第一投影图像；成像单元，所述成像单元用于根据所述多个射线源的第一投影图像，得到所述物品的第一重建图像。采用本实用新型实施例中的技术方案，能够消除待测物品的重建图像中的伪影。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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