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一种适配X射线衍射仪X/Y轴样品台的多位样品架

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010225638.0
  • IPC分类号:G01N23/20025
  • 申请日期:
    2020-03-27
  • 申请人:
    广州阳瑞仪器科技有限公司
著录项信息
专利名称一种适配X射线衍射仪X/Y轴样品台的多位样品架
申请号CN202010225638.0申请日期2020-03-27
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-05-29公开/公告号CN111208159A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N23/20025IPC分类号G;0;1;N;2;3;/;2;0;0;2;5查看分类表>
申请人广州阳瑞仪器科技有限公司申请人地址
广东省广州市海珠区仑头路78号自编A03号楼127号(仅限办公用途) 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人广州阳瑞仪器科技有限公司当前权利人广州阳瑞仪器科技有限公司
发明人孙波;庄敏
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明涉及一种适配X射线衍射仪X/Y轴样品台的多位样品架,包括样品盘和转接盘,所述样品盘上阵列排布有多个通孔;所述样品盘可拆地设置于转接盘上表面,所述转接盘可拆的连接于X射线衍射仪X/Y轴样品台;本发明适配X射线衍射仪X/Y轴样品台的多位样品架,通孔的贯穿结构能实现反装制样;凸出台阶圈一方面固定载样片,另一方面作为隔断也能进一步避免填装待测样品时发生粉末相互污染;子样品盘与样品盘配合能产生凸出台阶圈的结构效果,便于加工。

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