数控系统数据采集网关测试方法及设备

发明专利有效专利

申请号：
CN202010944135.9
IPC分类号：H04L12/26
申请日期：
2020-09-10
申请人：
国家工业信息安全发展研究中心

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	数控系统数据采集网关测试方法及设备
申请号	CN202010944135.9	申请日期	2020-09-10
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-12-18	公开/公告号	CN112104522A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H04L12/26 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H04 电通信技术 H04L 数字信息的传输，例如电报通信（电报和电话通信的公用设备入H04M）〔4〕 H04L12/00 数据交换网络（存储器、输入/输出设备或中央处理单元之间的信息或其他信号的互连或传送入G06F13/00）〔5，2006.01〕 H04L12/02 零部件〔5〕 H04L12/26 监视装置；测试装置〔5〕	IPC分类号	H;0;4;L;1;2;/;2;6查看分类表>
申请人	国家工业信息安全发展研究中心	申请人地址	北京市石景山区鲁谷路35号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	国家工业信息安全发展研究中心	当前权利人	国家工业信息安全发展研究中心
发明人	栾燕;张健;张娟娟;邓昌义;马振涛
代理机构	工业和信息化部电子专利中心	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种数控系统数据采集网关测试方法及设备，数控系统数据采集网关测试方法，包括以下具体步骤基于预设周期，通过数控系统的数据采集接口，采集数控系统内部数据；基于所述预设周期，通过数控系统数据采集网关的外部接口，获取所述数控系统数据采集网关采集的数控系统内部数据；比对同一采集时刻下，通过数据采集接口采集的数控系统内部数据与通过外部接口获取的数控系统内部数据的两组数据，以确定测试结果。采用本发明，能够从多种类型的数控系统数据采集网关中自动获取标准数据和被测数据，且能够自动且准确的进行测试数据的对比，并分析测试结果，从而可以高效率的实现对数控系统数据采集网关的测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供