加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

聚合物,光致抗蚀剂组合物和形成光刻图案的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201110463318.X
  • IPC分类号:C08F220/32;C08F222/14;G03F7/004;G03F7/00
  • 申请日期:
    2011-12-31
  • 申请人:
    罗门哈斯电子材料有限公司;陶氏环球技术有限公司
著录项信息
专利名称聚合物,光致抗蚀剂组合物和形成光刻图案的方法
申请号CN201110463318.X申请日期2011-12-31
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日2012-08-01公开/公告号CN102617790A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C08F220/32IPC分类号C;0;8;F;2;2;0;/;3;2;;;C;0;8;F;2;2;2;/;1;4;;;G;0;3;F;7;/;0;0;4;;;G;0;3;F;7;/;0;0查看分类表>
申请人罗门哈斯电子材料有限公司;陶氏环球技术有限公司申请人地址
美国马萨诸塞州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人罗门哈斯电子材料有限公司,陶氏环球技术有限公司当前权利人罗门哈斯电子材料有限公司,陶氏环球技术有限公司
发明人Y·C·裴;M·M·梅耶;孙纪斌;李承泫;朴钟根
代理机构上海专利商标事务所有限公司代理人陈哲锋
摘要
聚合物,光致抗蚀剂组合物和形成光刻图案的方法。提供包含具有特定乙缩醛部分的单元的聚合物和包含有这种聚合物的光致抗蚀剂组合物。同样提供光致抗蚀剂组合物涂覆的基体和形成光刻图案的方法。提供了一种聚合物,所述聚合物包括:由下述通式(I)单体形成的第一单元:其中R1代表氢或C1到C3烷基;R2代表单键或C1到C10有机基团;R3代表氢原子或C1到C10有机基团;R4各自独立的代表氢原子或C1到C10有机基团,键合在共有碳原子上的R4基团任选一起形成环;以及R5各自独立代表C1到C10有机基团,任选一起形成环;以及含有内酯部分的第二单元。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供