测试探针和使用其的测试装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201810876569.2
IPC分类号：G01R1/073
申请日期：
2018-08-03
申请人：
李诺工业股份有限公司

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著录项信息

专利名称	测试探针和使用其的测试装置
申请号	CN201810876569.2	申请日期	2018-08-03
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-02-26	公开/公告号	CN109387673A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/073 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/06 测量引线；测量探针（G01R 19/145，G01R 19/165优先）〔3〕 G01R1/067 测量探针〔3〕 G01R1/073 多个探针〔3〕	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;7;3查看分类表>
申请人	李诺工业股份有限公司	申请人地址	韩国釜山市江西区美音产团路105弄10号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	李诺工业股份有限公司	当前权利人	李诺工业股份有限公司
发明人	朴雄纪
代理机构	北京同立钧成知识产权代理有限公司	代理人	马爽;臧建明

摘要

本发明揭示一种用于测试待测试物件的电气特性的测试探针和使用其的测试装置。测试探针包括：第一接触部分；第二接触部分，可接近或远离第一接触部分移动；以及弹性变形部分，使第一接触部分与第二接触部分连接且通过在探针轴线方向上的压缩而弹性地变形，其中第一接触部分和第二接触部分中的至少一个包括由沿纵向方向形成的第一狭缝分离的多个分离接触部分。根据本揭示，多个分离接触部分被配置成独立地接触待测试物件的测试接触点，从而不仅提高接触可靠性而且通过替代分离接触部分来确保接触可靠性，即使分离接触部分中的一个有故障或损坏。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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