一种阻尼性能的微观测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202011625294.9
IPC分类号：G01N23/2251;G01N23/2202
申请日期：
2020-12-30
申请人：
上海交通大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种阻尼性能的微观测试方法
申请号	CN202011625294.9	申请日期	2020-12-30
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-05-14	公开/公告号	CN112798633A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/2251 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/206 （转入G01N 23/205） G01N23/22 通过测量来自材料的二次发射〔1，2，2006.01，2018.01〕 G01N23/221 利用活化分析法〔2〕 G01N23/222 利用中子活化分析〔NAA〕〔3，2006.01〕 G01N23/2251 使用入射电子束，例如扫描电子显微镜〔SEM〕〔2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;2;5;1;;;G;0;1;N;2;3;/;2;2;0;2查看分类表>
申请人	上海交通大学	申请人地址	上海市闵行区东川路800号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海交通大学	当前权利人	上海交通大学
发明人	郭强;杨淦婷;陆安粮;刘煜;韩一帆;赵蕾
代理机构	上海段和段律师事务所	代理人	李佳俊;郭国中

摘要

本发明提供了一种阻尼性能的微观测试方法，该方法具体步骤包括：A、将待测材料加工成微纳柱体；B、将微纳柱体进行单轴压缩实验，得到应力‑应变曲线；C、以应力‑应变曲线上弹性变形阶段的应力作为最大载荷，对微纳柱体进行等应力幅度的周期性单向压缩实验，得到工程应力‑时间曲线和工程应变‑时间曲线；D、通过统计步骤C中工程应力‑时间曲线和工程应变‑时间曲线中应变波滞后于应力波的时间，然后计算得到待测材料的阻尼系数。本发明提供了一种可以在微米尺度对材料阻尼性能进行测试的方法，能够准确测量材料的阻尼性能，检测分析精度高，适用性广泛。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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