一种兼顾点面目标的多功能波前探测装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201810684578.1
IPC分类号：G01J9/00;G02B27/10
申请日期：
2018-06-28
申请人：
北京空间机电研究所

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著录项信息

专利名称	一种兼顾点面目标的多功能波前探测装置
申请号	CN201810684578.1	申请日期	2018-06-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-12-07	公开/公告号	CN108955904A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J9/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J9/00 测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长（光谱测定法入G01J 3/00）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;J;9;/;0;0;;;G;0;2;B;2;7;/;1;0查看分类表>
申请人	北京空间机电研究所	申请人地址	北京市丰台区南大红门路1号9201信箱5分箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京空间机电研究所	当前权利人	北京空间机电研究所
发明人	程少园;夏中秋;姜宏佳;杨沐;付强强;句龙;魏久哲
代理机构	中国航天科技专利中心	代理人	范晓毅

摘要

本发明公开了一种兼顾点面目标的多功能波前探测装置，通过将点光源与面光源相结合，将点目标夏克‑哈特曼法波前探测器光路、面目标相关夏克‑哈特曼法波前探测光路、面目标相位差法波前探测光路整合在一起，通过变形镜面形产生各种静态或动态的像差，用点目标夏克‑哈特曼法波前探测器探测的波前信息对相关夏克‑哈特曼法与相位差法两种面目标波前探测器的波前探测精度和性能进行评测与校准。本发明具有集成度高、功能多样、操作简单、性能可靠、精度较高、易于对比检校等优点，是进行点面目标复合波前探测的有效装置。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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