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基于电磁超材料的高精度与大测量范围的微波角位移传感器

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201711226966.7
  • IPC分类号:G01D5/48
  • 申请日期:
    2017-11-29
  • 申请人:
    武汉市工程科学技术研究院
著录项信息
专利名称基于电磁超材料的高精度与大测量范围的微波角位移传感器
申请号CN201711226966.7申请日期2017-11-29
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2018-05-29公开/公告号CN108088483A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01D5/48IPC分类号G;0;1;D;5;/;4;8查看分类表>
申请人武汉市工程科学技术研究院申请人地址
湖北省武汉市江大路30号工科院科技管理处 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉市工程科学技术研究院当前权利人武汉市工程科学技术研究院
发明人郭俊峰;杨河林;金彦;叶辉;周超;刘玉
代理机构武汉开元知识产权代理有限公司代理人潘杰;李满
摘要
本发明涉及一种基于电磁超材料的高精度与大测量范围的微波角位移传感器,它的圆形基底的底面刻蚀有互补型开缝金属环,互补型开缝金属环包括外圈金属偏环、内圈偏心圆形金属片和金属缝隙条,外圈金属偏环和内圈偏心圆形金属片通过金属缝隙条连接,下层传输接地板包括矩形基底,矩形基底的顶部刻蚀有金属环形微带线,在矩形基底中金属环形微带线的左右两端刻蚀有电磁波信号输入线和电磁波信号输出线,矩形基底的整个底部刻蚀有矩形金属接地层,金属环形微带线与互补型开缝金属环之间的四个角设置有角垫。

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