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一种光学防抖测试方法、装置、设备及介质

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110439298.6
  • IPC分类号:H04N17/00;H04M1/24
  • 申请日期:
    2021-04-23
  • 申请人:
    昆山丘钛微电子科技股份有限公司
著录项信息
专利名称一种光学防抖测试方法、装置、设备及介质
申请号CN202110439298.6申请日期2021-04-23
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-08-27公开/公告号CN113315965A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04N17/00IPC分类号H;0;4;N;1;7;/;0;0;;;H;0;4;M;1;/;2;4查看分类表>
申请人昆山丘钛微电子科技股份有限公司申请人地址
江苏省苏州市昆山高新技术产业开发区台虹路3号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人昆山丘钛微电子科技股份有限公司当前权利人昆山丘钛微电子科技股份有限公司
发明人周寅龙
代理机构北京众达德权知识产权代理有限公司代理人梁凯
摘要
本发明公开了一种光学防抖测试方法、装置、设备及介质,所述方法包括:获取光学防抖测试过程中采集的第一图像数据;采用与第一图像数据的格式对应的图像处理流程,对第一图像数据进行处理得到统一格式的第二图像数据;根据所述第二图像数据,计算表征所述光学防抖测试的测试效果的数据。解决了现有技术中目前尚没有对手机上的模组进行OIS测试的系统的技术问题,提供了一种既能对模组厂单体模组进行测试,而且还能对手机厂的手机整机进行测试的技术方案。

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