膜式或带式印制电路板的自动光学检测系统及处理方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200510059345.5
IPC分类号：G01N21/956;G01B11/24
申请日期：
2005-03-29
申请人：
AJU高技术公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	膜式或带式印制电路板的自动光学检测系统及处理方法
申请号	CN200510059345.5	申请日期	2005-03-29
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2005-10-05	公开/公告号	CN1677095
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/956 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕 G01N21/956 检测物品表面上的图案〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;5;6;;;G;0;1;B;1;1;/;2;4查看分类表>
申请人	AJU高技术公司	申请人地址	韩国京畿道变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	AJU高技术公司	当前权利人	AJU高技术公司
发明人	崔铉镐
代理机构	北京信慧永光知识产权代理有限责任公司	代理人	武玉琴;胡育昌

摘要

本发明公开一种用于被制成膜式或带式的印制电路板的自动光学检测系统以及方法，该系统及方法能防止检测过程中的过度检测。该自动光学检测系统通过比较图像数据与照明系统的第一参考值来确定电路图案是否有缺陷，该图像数据是从用于印制电路板的透射/反射光获得的。在实践中，通过第一和第二参考值，已被确定为具有缺陷的PCB单元再次被确定为图案缺陷或是由杂质造成的缺陷。因此，纠正性地将过度检测了的、曾由于杂质而被视为具有缺陷但实际上并没有缺陷的PCB单元确定为优质产品，从而防止了过度检测，并因而提高了检测过程的效率和生产率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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