双激光器频率扫描干涉法高精度绝对距离测量仪

发明专利无效专利

申请号：
CN200910088130.4
IPC分类号：G01S17/08
申请日期：
2009-07-06
申请人：
北京航空航天大学

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著录项信息

专利名称	双激光器频率扫描干涉法高精度绝对距离测量仪
申请号	CN200910088130.4	申请日期	2009-07-06
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2009-12-09	公开/公告号	CN101598794
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01S17/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01S 无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置 G01S17/00 应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统，例如，激光雷达系统〔3〕 G01S17/02 应用除无线电波外的电磁波反射的系统（G01S 17/66优先）〔3〕 G01S17/06 测定目标位置数据的系统〔3〕 G01S17/08 只用于测量距离（间接测量入G01S 17/46；有源三角测量系统入G01S 17/48；）〔3，8〕	IPC分类号	G01S17/08查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	江月松;张绪国;路小梅
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及一种双激光器频率扫描干涉法高精度绝对距离测量仪，属于精密测量技术领域。该距离测量系统主要有无跳模频率扫描外腔半导体激光器、频率扫描范围测量模块、折射率测量模块、参考和测量干涉计，以及数据采集和控制系统组成。该方法的优点是在频率扫描的同时进行干涉条纹计数，消除了距离测量的不确定性。采用双激光器进行频率扫描可以有效地抵消系统的测量误差，同时可以抑制振动和条纹计数的不确定性带来的误差，利用双干涉测量回路的模式进行光程差的测量可以消除参考干涉计的影响，提高测量的精度和准确度。该系统适合长距离、高精度测量领域的应用，如空间综合孔径排列、小行星编队、高能物理实验中跟踪探测器的准实时排列等。

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发明授权

双激光器频率扫描干涉法高精度绝对距离测量仪

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