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一种校准两轴地磁传感器软硬磁误差的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201010245167.6
  • IPC分类号:G01V13/00
  • 申请日期:
    2010-08-04
  • 申请人:
    美新半导体(无锡)有限公司
著录项信息
专利名称一种校准两轴地磁传感器软硬磁误差的方法
申请号CN201010245167.6申请日期2010-08-04
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2012-03-14公开/公告号CN102375160A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01V13/00IPC分类号G;0;1;V;1;3;/;0;0查看分类表>
申请人美新半导体(无锡)有限公司申请人地址
江苏省无锡市国家高新技术产业开发区新辉环路2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人美新半导体(无锡)有限公司当前权利人美新半导体(无锡)有限公司
发明人毛尧辉
代理机构无锡互维知识产权代理有限公司代理人王爱伟
摘要
本发明公开了一种校准两轴地磁传感器软硬磁误差的方法,其包括有以下步骤,假定两轴地磁传感器水平放置时其x、y轴的原始输出数据符合一般椭圆公式ax2+bxy+cy2+dx+ey-f=0(1),设g(x,y;X)=ax2+bxy+cy2+dx+ey=AX=f,X={a,b,c,d,e},通过计算X的误差平方值并取其最小值,得出式(1)的解,a1x2+b1xy+c1y2+d1x+e1y-1=0(8),再通过旋转式(8)表示的椭圆得到新的无倾斜角的椭圆方程a2x2+c2y2+d2x+e2y+f2=0,由此算出式(1)表示的一般椭圆的圆心坐标、长短轴及长轴与x轴正方向的夹角,最终得到去除软硬磁误差后的归一化数据。本发明能够有效校准两轴地磁传感器的软硬磁误差。

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