一种OpenBlock测试装置、方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201911018608.6
IPC分类号：G11C29/56
申请日期：
2019-10-24
申请人：
苏州浪潮智能科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种OpenBlock测试装置、方法及系统
申请号	CN201911018608.6	申请日期	2019-10-24
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-04-17	公开/公告号	CN111028881A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/56 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/56 用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备〔ATE〕；所用接口〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;5;6查看分类表>
申请人	苏州浪潮智能科技有限公司	申请人地址	江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州浪潮智能科技有限公司	当前权利人	苏州浪潮智能科技有限公司
发明人	李栋
代理机构	济南舜源专利事务所有限公司	代理人	刘雪萍

摘要

本发明公开一种Open Block测试装置、方法及系统，包括测试主机和至少一个测试板卡；测试板卡上设置有测试控制器、Nand Flash芯片、温控部件；所述Nand Flash芯片、温控部件分别与测试控制器电连接；测试控制器与测试主机通信。通过测试主机控制测试控制器对Nand Flash芯片进行读写，写入时，对Block的部分page进行读写，使Block处于Open状态，即Open Block。间隔一定时间再进行读取，计算Block的每个page的BER，最后分析出BER随时间的变化。提供Block在不同温度Open状态下BER随时间的变化趋势及规律，为Nand Flash控制器的实现及优化提供参考。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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