同步偏振调制干涉成像光谱偏振探测装置及方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201210563403.8
IPC分类号：G01J3/447;G01J3/45;G01J4/00
申请日期：
2012-12-21
申请人：
南京理工大学

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著录项信息

专利名称	同步偏振调制干涉成像光谱偏振探测装置及方法
申请号	CN201210563403.8	申请日期	2012-12-21
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2013-04-24	公开/公告号	CN103063303A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/447 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕 G01J3/447 偏振光谱法〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;4;4;7;;;G;0;1;J;3;/;4;5;;;G;0;1;J;4;/;0;0查看分类表>
申请人	南京理工大学	申请人地址	江苏省南京市孝陵卫200号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南京理工大学	当前权利人	南京理工大学
发明人	李建欣;孟鑫;刘德芳;周伟;郭仁慧;沈华;马骏;朱日宏;陈磊;何勇
代理机构	南京理工大学专利中心	代理人	朱显国

摘要

本发明公开了一种同步偏振调制干涉成像光谱偏振探测装置及方法，该装置包括在同一光轴顺次放置的前置偏振成像系统、像面干涉成像光谱仪和信号处理系统。入射光通过偏振元件阵列，形成携带四组不同偏振态信息的光束，并在微透镜阵列后焦面的空间上分开；分开的各点光线经过准直物镜后射入到横向剪切分束器，被横向一分为二，引入光程差信息；两支出射光经过后置成像物镜，在探测器靶面上得到携带有干涉信息和偏振态信息的目标图像，并转化为电信号进入信号处理系统，进行傅里叶变换，得到目标各点的二维空间光强信息、光谱信息和全Stokes偏振信息。具有高光谱分辨率，高信噪比，全Stokes偏振信息同时探测的优点，可以用于窄带或宽带光谱探测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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