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对位精度检测装置

发明专利有效专利

申请号：
CN200610108030.X
IPC分类号：H01L21/66;H01L21/68;H01L21/60
申请日期：
2006-07-24
申请人：
友达光电股份有限公司

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权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	对位精度检测装置
申请号	CN200610108030.X	申请日期	2006-07-24
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2007-01-03	公开/公告号	CN1889243
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01L21/66 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G 9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中半导体器件的使用见该应用的小类）〔2〕 H01L21/00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备〔2，8〕 H01L21/66 在制造或处理过程中的测试或测量〔2〕	IPC分类号	H;0;1;L;2;1;/;6;6;;;H;0;1;L;2;1;/;6;8;;;H;0;1;L;2;1;/;6;0查看分类表>
申请人	友达光电股份有限公司	申请人地址	中国台湾新竹市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	友达光电股份有限公司	当前权利人	友达光电股份有限公司
发明人	李俊右;周诗频;陈建良;赖文弘
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	魏晓刚;李晓舒

摘要

一种对位精度检测装置，其具有基板、集成电路、以及检测单元。基板具有相邻的第一及第二定位金属垫。集成电路配置在基板上，且具有相邻的第一及第二定位凸块。第一及第二定位凸块分别相对于第一及第二定位金属垫。检测单元耦接基板。当第一及第二定位凸块与第一及第二定位金属垫之间发生对位偏移时，检测单元输出错误信号。

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