晶片测试台

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200920104870.8
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2009-01-09
申请人：
江阴市爱多光伏科技有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	晶片测试台
申请号	CN200920104870.8	申请日期	2009-01-09
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	江阴市爱多光伏科技有限公司	申请人地址	江苏省江阴市周庄镇周北工业集中区(宗言村) 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	江阴市爱多光伏科技有限公司	当前权利人	江阴市爱多光伏科技有限公司
发明人	胡德良;沈彪;张正栋;陈浩
代理机构	北京路浩知识产权代理有限公司	代理人	张春和

摘要

本实用新型是一种晶片测试台，包括：一测试电路板、一定位体及测试台座，在测试台制作完成后，可将测试台安装在测试电路板上，此时测试电路板上具有一测试区，该测试区是有数个接触体所构成，并在测试区内设置有一定位体，在该定位梯上设有数个对应接触体的通孔，安装在测试台中的接触体对应于定位体的通孔连接时，该测试台上的接触体即可与测试电路板上的接触体接触，及形成对晶片进行测试的测试台结构。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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