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*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

上探针式接触测试装置

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN201420344356.2
  • IPC分类号:G01R1/067
  • 申请日期:
    2014-06-23
  • 申请人:
    北京盈和工控技术有限公司
著录项信息
专利名称上探针式接触测试装置
申请号CN201420344356.2申请日期2014-06-23
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R1/067IPC分类号G;0;1;R;1;/;0;6;7查看分类表>
申请人北京盈和工控技术有限公司申请人地址
北京市海淀区阜成路42号院27号楼205室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京盈和科技股份有限公司当前权利人北京盈和科技股份有限公司
发明人刘卫华
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本实用新型提供一种上探针式接触测试装置,以解决在现有接触测试装置中,无法使探针始终处于准确位置,并且容易使测试架台发生倾斜的问题。本实用新型由测试架台、导轨、气缸、基座、XY调整台、测试基座、探针、治具、限位器与限位块构成,探针与治具依次安装在测试基座上,测试基座安装在测试架台上,测试架台安装在导轨上,气缸、导轨与限位器均是安装在基座上,基座安装在XY调整台上,气缸与测试架台相连接,限位块安装在测试架台上。本实用新型可进行XY方向的精确位移调整,使探针可以处于准确位置,当气缸推动测试架台向上沿导轨运动时,可确保运动路线与水平面始终保持垂直状态,避免发生倾斜。

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