一种用于芯片的简易观测装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201820625118.7
IPC分类号：G01N21/956
申请日期：
2018-04-27
申请人：
深圳市源创数码科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种用于芯片的简易观测装置
申请号	CN201820625118.7	申请日期	2018-04-27
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/956 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕 G01N21/956 检测物品表面上的图案〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;5;6查看分类表>
申请人	深圳市源创数码科技有限公司	申请人地址	广东省深圳市龙华新区龙华街道水斗新围工业区誉兴综合楼B栋一、二楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市源创数码科技有限公司	当前权利人	深圳市源创数码科技有限公司
发明人	潘颖彬
代理机构	北京品源专利代理有限公司	代理人	胡彬

摘要

本实用新型公开了一种用于芯片的简易观测装置，包括底板、设置于所述底板上方且与所述底板平行间隔设置的顶板、垂直紧固于所述顶板和所述底板之间的支撑柱、以及与所述顶板螺纹连接的观测镜；所述底板的中部凹设有用于芯片定位的凹槽，所述观测镜位于所述凹槽的正上方，所述观测镜包括镜筒，以及设置于所述镜筒的腔体内的放大镜，所述顶板的中部贯穿设置有螺纹孔，所述螺纹孔与周向均布于所述镜筒外周面的外螺纹螺纹连接。采用上述结构设计的简易观测装置，能够通过旋转螺纹连接于顶板上的观测镜，方便快捷的对固定于底座上表面的芯片进行观测，以此有效提升观测的便捷性和准确性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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