一种纳米晶硬质合金均匀性的测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010918898.6
IPC分类号：G01N23/203;G01N23/20008;G01N1/32
申请日期：
2020-09-04
申请人：
江西江钨硬质合金有限公司

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专利名称	一种纳米晶硬质合金均匀性的测量方法
申请号	CN202010918898.6	申请日期	2020-09-04
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-11-27	公开/公告号	CN111999326A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/203 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/14 （转入G01N 23/083-G01N 23/087， G01N 23/12） G01N23/20 利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射〔1，2006.01，2018.01〕 G01N23/203 测量背散射〔2，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;0;3;;;G;0;1;N;2;3;/;2;0;0;0;8;;;G;0;1;N;1;/;3;2查看分类表>
申请人	江西江钨硬质合金有限公司	申请人地址	江西省宜春市靖安县工业园区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	江西江钨硬质合金有限公司	当前权利人	江西江钨硬质合金有限公司
发明人	梁瑜;龚红;丁辉辉;汤昌仁
代理机构	南昌贤达专利代理事务所（普通合伙）	代理人	暂无

摘要

本发明涉及合金晶粒尺寸测量领域，具体公开了一种纳米晶硬质合金均匀性的测量方法。本测量方法包括制样、观测、统计三步骤；所述的制样包括镜面抛光和金相腐蚀步骤；其中金相腐蚀又包括首次WC腐蚀、钴相腐蚀、再次WC腐蚀步骤；所述的观测是使用场发射扫描电镜，并通过背散射电子成像拍摄20000‑40000倍显微组织照片。所述的统计是使用测量软件测量合金的每一粒晶粒粒度，统计数据并画出粒度分布图，来表征合金的均匀性。本发明既适用于为以Co作粘结相的WC/Co硬质合金，也适用于以立方相碳化物、TiC、Ti(C.N)之中的任一种为抑制剂的纳米晶硬质合金均匀性的测量。应用本发明可以简单快速完成纳米晶硬质合金均匀性的测量并可显著提髙图像分辨率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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