一种基于曲面投影的InSAR成像方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201210475166.X
IPC分类号：G01S13/90
申请日期：
2012-11-21
申请人：
电子科技大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种基于曲面投影的InSAR成像方法
申请号	CN201210475166.X	申请日期	2012-11-21
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2013-04-03	公开/公告号	CN103018740A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01S13/90 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01S 无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置 G01S13/00 使用无线电波的反射或再辐射的系统，例如雷达系统；利用波的性质或波长是无关的或未指明的波的反射或再辐射的类似系统〔3〕 G01S13/89 用于绘地图或成像〔3〕 G01S13/90 使用合成孔径技术〔3，6〕	IPC分类号	G;0;1;S;1;3;/;9;0查看分类表>
申请人	电子科技大学	申请人地址	四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	电子科技大学	当前权利人	电子科技大学
发明人	张晓玲;付涛
代理机构	电子科技大学专利中心	代理人	曾磊

摘要

本发明公开了一种基于曲面投影的InSAR成像方法，该方法通过在低精度的高程曲面上进行反向投影成像，将不同雷达天线的测量数据投影到以低精度高程曲面建立的InSAR成像空间中，提高了InSAR成像精度和干涉相位保持精度，同时提取干涉相位以后，陡变地形区域的干涉条纹稀疏，后续相位解缠的难度降低，相位解缠的精度提高，使得高程反演的精度提高，为InSAR高质量干涉相位生成提供了一种新方法。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供