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一种半成品电池片抗PID性能的测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201510794622.0
IPC分类号：H01L31/18;H01L21/66
申请日期：
2015-11-18
申请人：
浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种半成品电池片抗PID性能的测试方法
申请号	CN201510794622.0	申请日期	2015-11-18
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2016-04-06	公开/公告号	CN105470346A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01L31/18 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G 9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中半导体器件的使用见该应用的小类）〔2〕 H01L31/058 （转入H01L 31/0525，H02S 40/44） H01L31/18 专门适用于制造或处理这些器件或其部件的方法或设备〔2〕	IPC分类号	H;0;1;L;3;1;/;1;8;;;H;0;1;L;2;1;/;6;6查看分类表>
申请人	浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司	申请人地址	浙江省嘉兴市海宁市袁花镇袁溪路58号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江晶科能源有限公司,晶科能源有限公司	当前权利人	浙江晶科能源有限公司,晶科能源有限公司
发明人	侯玥玥;蒋方丹;金井升;金浩
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	罗满

摘要

本申请公开了一种半成品电池片抗PID性能的测试方法，包括：将半成品电池片水平放置，在所述半成品电池片的表面上的多个位置点滴上去离子水，观察所述去离子水自然扩散之后的形态，根据所述形态判断所述半成品电池片的抗PID性能。本申请提供的上述半成品电池片抗PID性能的测试方法，能够有效的测量半成品电池片的抗PID性能，且操作方便。

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