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调试方法、装置、系统及数据集生成方法、装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110567521.5
  • IPC分类号:H04L29/06;H04L29/08
  • 申请日期:
    2021-05-24
  • 申请人:
    深圳市航顺芯片技术研发有限公司
著录项信息
专利名称调试方法、装置、系统及数据集生成方法、装置
申请号CN202110567521.5申请日期2021-05-24
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-09-07公开/公告号CN113364747A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04L29/06IPC分类号H;0;4;L;2;9;/;0;6;;;H;0;4;L;2;9;/;0;8查看分类表>
申请人深圳市航顺芯片技术研发有限公司申请人地址
广东省深圳市龙岗区平湖街道禾花社区平吉大道北159号恒路E时代大厦2201 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳市航顺芯片技术研发有限公司当前权利人深圳市航顺芯片技术研发有限公司
发明人刘炎;王翔;刘吉平
代理机构深圳市嘉勤知识产权代理有限公司代理人辛鸿飞
摘要
本申请公开了一种调试方法、装置、系统及数据集生成方法、装置,具体涉及调试技术领域,其方法包括:获取调试数据集;基于所述调试数据集进行解析,获得至少一个与预设接口协议对应的待调试数据;利用所述待调试数据对待调试设备进行调试。通过从调试数据集中解析出至少一个与预设接口协议对应的待调试数据,之后将调试数据与待调试设备进行调试,从而通过获取调试数据集,实现对多个待调试设备的调试控制,以降低调试成本。

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