红外测温及监控系统及其校准方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110261471.8
IPC分类号：G01J5/52
申请日期：
2021-03-10
申请人：
杭州大立微电子有限公司

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著录项信息

专利名称	红外测温及监控系统及其校准方法
申请号	CN202110261471.8	申请日期	2021-03-10
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-05-25	公开/公告号	CN112834054A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J5/52 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J5/00 辐射高温测定法 G01J5/50 用下列各组指明的技术 G01J5/52 应用与参考源作比较的方法，例如，隐丝高温计	IPC分类号	G;0;1;J;5;/;5;2查看分类表>
申请人	杭州大立微电子有限公司	申请人地址	浙江省杭州市滨康路639号二区2402室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州大立微电子有限公司	当前权利人	杭州大立微电子有限公司
发明人	姜利军;钱良山
代理机构	上海盈盛知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	孙佳胤;高翠花

摘要

一种红外测温及监控系统包括：标定模块，包括黑体辐射源，黑体辐射源具有至少两个发射率不同的区域，用于在同一设定温度下形成至少两个不同的表观温度；探测模块，用于探测黑体辐射源及被测目标物的红外辐射；数据处理模块，能够根据表观温度及其对应的红外辐射形成标定数据，以实现对红外测温及监控系统的校准，且能够对探测模块的数据进行处理，获得被测目标物的特征信息。本发明将标定模块集成在系统中，可实时对红外测温及监控系统进行校准，大大提高了红外测温及监控系统测温及检测的准确度。同时，同一黑体辐射源在同一预设温度下能够产生至少两个表观温度，实现了多温度点标定，提高了校准精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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