一种用孔径仪检测环规的方法

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专利名称	一种用孔径仪检测环规的方法
申请号	CN201910268540.0	申请日期	2019-04-03
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-10-16	公开/公告号	CN111780704A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/10 用于计量直径〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;1;0;;;G;0;1;B;5;/;0;0查看分类表>
申请人	西安飞机工业（集团）有限责任公司	申请人地址	陕西省西安市西飞大道一号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安飞机工业（集团）有限责任公司	当前权利人	西安飞机工业（集团）有限责任公司
发明人	杨琦;付辉;刘军;陈媛
代理机构	中国航空专利中心	代理人	杜永保

摘要

本申请公开了一种用孔径仪检测环规的检测方法，一个带V型面定位块，定位块一侧边为基准边，定位块中间设有与孔径仪工作台卡槽配合的卡块，卡块中心线与基准边平行，检测时将环规边缘靠住定位块V型面，保证环规边缘与两个V型面重合；进行调平找正，找正后固定测量位置进行不同规格环规的测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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