基于高能电子辐照提高柔性传感器性能的分析方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202211145034.0
IPC分类号：G01B7/16;G06F30/20;G16C60/00;G06F113/26
申请日期：
2022-09-20
申请人：
哈尔滨工业大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	基于高能电子辐照提高柔性传感器性能的分析方法
申请号	CN202211145034.0	申请日期	2022-09-20
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2022-12-02	公开/公告号	CN115420190A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B7/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B7/00 以采用电或磁的方法为特征的计量设备 G01B7/16 用于计量固体的变形，例如电阻应变仪	IPC分类号	G;0;1;B;7;/;1;6;;;G;0;6;F;3;0;/;2;0;;;G;1;6;C;6;0;/;0;0;;;G;0;6;F;1;1;3;/;2;6查看分类表>
申请人	哈尔滨工业大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工业大学	当前权利人	哈尔滨工业大学
发明人	杨剑群;李兴冀;吕钢;徐晓东
代理机构	北京隆源天恒知识产权代理有限公司	代理人	鲍丽伟

摘要

本发明提供一种基于高能电子辐照提高柔性传感器性能的分析方法，包括获取柔性传感器；构建柔性传感器的仿真模型；对仿真模型进行高能电子辐照仿真，获取入射范围大于柔性传感器厚度的第一辐照能量；采用不同辐照注量的高能电子对所述柔性传感器进行辐照；测试辐照前后柔性传感器的基础性能和缺陷结构；根据初始状态下柔性传感器的基础性能和缺陷结构，以及，辐照后柔性传感器的基础性能和缺陷结构，分析高能电子辐照对柔性传感器性能的影响效应及机制。本发明提供的分析方法能够通过辐照前后柔性传感器的表征分析高能电子对柔性传感器性能的影响效应及机制，从而为高能电子辐照技术应用于提高柔性传感器性能提供理论依据。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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