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三维测量系统及其三维扫描装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201020270253.8
  • IPC分类号:G01B11/00
  • 申请日期:
    2010-07-22
  • 申请人:
    首都师范大学
著录项信息
专利名称三维测量系统及其三维扫描装置
申请号CN201020270253.8申请日期2010-07-22
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/00IPC分类号G;0;1;B;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人首都师范大学申请人地址
北京市海淀区西三环北路105号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人首都师范大学当前权利人首都师范大学
发明人宫辉力;钟若飞;王留召;刘先林
代理机构北京市惠诚律师事务所代理人雷志刚
摘要
本实用新型涉及一种三维测量系统,包括一定位定姿装置、一通过扫描获取一被测目标物体的几何数据的360度的激光扫描仪、一具有一旋转中心且绕所述旋转中心水平旋转的电子转台、一获取所述电子转台的绝对位置数据的定位定姿装置及一将所述电子转台的绝对位置数据和所述激光扫描仪获取的几何数据进行融合处理的数据处理装置,所述定位定姿装置及所述激光扫描仪安装在所述电子转台上,所述激光扫描仪的一扫描面与所述电子转台之间具有一特定角度。本实用新型还提供一种三维扫描装置,所述三维扫描装置及三维测量系统实现了对被测物体的全方位扫描和测量。

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