一种可快速改变剪切方向和大小的微分干涉成像系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202010222394.0
IPC分类号：G01J3/45;G01J3/02;G01J3/12;G01N21/45
申请日期：
2020-03-26
申请人：
华南师范大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种可快速改变剪切方向和大小的微分干涉成像系统
申请号	CN202010222394.0	申请日期	2020-03-26
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-08-14	公开/公告号	CN111537070A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/45 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕 G01J3/45 干涉光谱法〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;4;5;;;G;0;1;J;3;/;0;2;;;G;0;1;J;3;/;1;2;;;G;0;1;N;2;1;/;4;5查看分类表>
申请人	华南师范大学	申请人地址	广东省广州市天河区中山大道西55号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华南师范大学	当前权利人	华南师范大学
发明人	吕晓旭;周成鑫;钟丽云;宁钦文;刘胜德
代理机构	广州容大知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	刘新年

摘要

本发明涉及一种可快速改变剪切方向和大小的微分干涉成像系统，包括：光源、滤光片、起偏器、样品台、无限远成像显微物镜、镜筒透镜、剪切组件、检偏器、图像传感器。光源发出的线偏振光经过滤光片调整光强和起偏器调整偏振方向后，再经过置于样品台上的透明样品后被无限远成像显微物镜收集并通过镜筒透镜成像，成像光束被剪切组件分为两束偏振方向相互垂直、具有微小剪切量的线偏振光场，再由检偏器合成后成为干涉光场，最终在图像传感器中形成微分干涉图像。本发明提供的微分干涉成像系统可以灵活地装配到常规光学显微镜上，结构简单，易于实现，能够通过对非染色样品进行高质量的定量相位测量来研究样品的形态与结构。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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该专利没有被任何外部专利所引用！

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