折反透镜组检验超大口径凸抛物面反射镜的光学系统

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201920299353.4
IPC分类号：G01M11/00
申请日期：
2019-03-11
申请人：
中国科学院上海技术物理研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	折反透镜组检验超大口径凸抛物面反射镜的光学系统
申请号	CN201920299353.4	申请日期	2019-03-11
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院上海技术物理研究所	申请人地址	上海市虹口区玉田路500号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海技术物理研究所	当前权利人	中国科学院上海技术物理研究所
发明人	胡文琦;戚丽丽;郑列华;张珑
代理机构	上海沪慧律师事务所	代理人	郭英

摘要

本专利公开了一种折反透镜组检验超大口径凸抛物面反射镜的光学系统。检验光学系统主要由干涉仪、折反透镜组、亨德尔球面反射镜及待检凸抛物面反射镜组成。折反透镜组由一个单透镜和一个折反透镜组成。首先利用折反透镜校正球面反射镜产生的球差，再利用单透镜形成自准检验光路同时提高球差校正效果。该光学系统可以实现超大口径凸抛物面反射镜的高精度检验。本专利可以在保证系统检验高精度的同时，减小所需球面反射镜以及折反透镜组的口径，缩短检测光路的长度，降低了加工以及检测过程中装调的难度，节约了成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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