一种图像缺陷拟合方法、系统和存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202110419349.9
IPC分类号：G06T7/00;G06K9/32;G06K9/46;G06N3/04
申请日期：
2021-04-19
申请人：
凌云光技术股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种图像缺陷拟合方法、系统和存储介质
申请号	CN202110419349.9	申请日期	2021-04-19
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-07-06	公开/公告号	CN113077454A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;K;9;/;3;2;;;G;0;6;K;9;/;4;6;;;G;0;6;N;3;/;0;4查看分类表>
申请人	凌云光技术股份有限公司	申请人地址	北京市海淀区翠湖南环路13号院7号楼7层701室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	凌云光技术股份有限公司	当前权利人	凌云光技术股份有限公司
发明人	尹书娟
代理机构	北京弘权知识产权代理有限公司	代理人	逯长明;许伟群

摘要

本申请提供了一种图像缺陷拟合方法、系统和存储介质，包括：获取待检测样本图像；对待检测样本图像进行缺陷特征检测处理；当待检测样本图像中存在缺陷特征时，提取缺陷特征，得到缺陷图像；在预设的背景图像库中选取若干个背景图像；将缺陷图像分别与每个背景图像进行拟合处理，得到若干个缺陷拟合图像。本申请能够将缺陷特征和多个背景图像进行拟合，从而得到缺陷特征在不同背景下的多个缺陷图像模板，以提高对显示屏进行缺陷检测时的准确率，同时扩充了缺陷图像模板还可以实现缺陷的快速检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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