一种四维自适应绝缘件表面电荷测量装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201010034314.5
IPC分类号：G01R29/00
申请日期：
2010-01-15
申请人：
清华大学

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著录项信息

专利名称	一种四维自适应绝缘件表面电荷测量装置
申请号	CN201010034314.5	申请日期	2010-01-15
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-07-28	公开/公告号	CN101788613A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;0;0查看分类表>
申请人	清华大学	申请人地址	北京市海淀区清华园1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清华大学	当前权利人	清华大学
发明人	王强;张贵新;王蓓;徐曙光;吴宝晖
代理机构	北京清亦华知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	罗文群

摘要

本发明涉及一种四维自适应绝缘件表面电荷测量装置，属于高电压设备和电子技术领域。测量装置包括测量探头、探头控制机构、旋转盘、摄像头、电源、控制器红外测距仪等。本测量装置通过红外测距仪接收距离信号，通过多台电机自动调节探头与被测表面之间的距离与角度，保持探头与表面垂直并且距离恒定，实现对绝缘件表面电荷的测量。本测量装置可以置于可承受气压的密封腔体内，在高气压环境下对绝缘件表面电荷进行测量，并实现探头的两种平动和两种转动，适用于各种形状绝缘件的测量，且具有很高的空间分辨率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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