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一种多值存储器的校准电路、校准方法和编程方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202111045880.0
  • IPC分类号:G11C13/00
  • 申请日期:
    2021-09-07
  • 申请人:
    上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司
著录项信息
专利名称一种多值存储器的校准电路、校准方法和编程方法
申请号CN202111045880.0申请日期2021-09-07
法律状态公开申报国家中国
公开/公告日2021-12-03公开/公告号CN113744780A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G11C13/00IPC分类号G;1;1;C;1;3;/;0;0查看分类表>
申请人上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司申请人地址
上海市嘉定区叶城路1288号6幢JT2216室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司,上海集成电路研发中心有限公司当前权利人上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司,上海集成电路研发中心有限公司
发明人沈灵;严慧婕;任永旭;蒋宇;温建新
代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)代理人田婷
摘要
本发明提供的一种多值存储器的校准电路、校准方法和编程方法。校准电路包括多值存储器、参考可变电阻、灵敏放大器、编程开关、读开关、电流通路模块、逻辑控制模块和非易失性存储器,灵敏放大器包括第一输入端、第二输入端和输出端;多值存储器的一端与编程开关连接,另一端与灵敏放大器的第一输入端连接,多值存储器的一端还与读开关连接;编程开关与读开关并联;参考可变电阻的一端与编程开关连接,另一端与灵敏放大器的第二输入端连接。利用校准电路确定各阻值对应的校准结果,校准结果即过冲阻值,在写入数据的时候,可以将参考可变电阻的阻值减去对应的过冲阻值作为目标编程阻值,这样可以消除多值存储器在编程模式下存在过冲阻值的问题。

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