晶片测试装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN00245839.X
IPC分类号：--
申请日期：
2000-08-15
申请人：
陈文杰

基础信息

权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	晶片测试装置
申请号	CN00245839.X	申请日期	2000-08-15
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	陈文杰	申请人地址	中国台湾变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	陈文杰	当前权利人	陈文杰
发明人	陈文杰
代理机构	天津三元专利事务所	代理人	周永铨

摘要

一种晶片测试装置,包括:一底座,设有固定座,并架设导引构件;一本体架设于导引构件,依导引移动,一升降座套接于本体上下移动,一驱动元件固设于本体,校正驱动升降座上移设定距离;一置物构件固设于升降座,其定位槽内置放晶片;一检测构件设于置物构件上侧且设基板,基板设有测试座。本体上驱动元件每启动一次移动一单位距离,控制器启动驱动元件一次紧接一次动作,接收停止讯号后立刻以精确距离停止,晶片接触测试座的探针为可接受抵压接触范围,可提供精确测试。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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