一种基于UVM的RFID标签芯片验证装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202010935322.0
IPC分类号：G06F11/36
申请日期：
2020-09-10
申请人：
上海明矽微电子有限公司

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著录项信息

专利名称	一种基于UVM的RFID标签芯片验证装置
申请号	CN202010935322.0	申请日期	2020-09-10
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-12-11	公开/公告号	CN112069074A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/36 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/36 通过软件的测试或调试防止错误〔7〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;3;6查看分类表>
申请人	上海明矽微电子有限公司	申请人地址	上海市浦东新区南汇新城镇环湖西二路888号C楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海明矽微电子有限公司	当前权利人	上海明矽微电子有限公司
发明人	孙晓霞;张建伟
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明装置是一种基于UVM的RFID标签芯片验证装置，包括静态组件：虚拟接口模块、调用run_test()方法、时钟生成模块、RFID标签的DUT和EEPROM模块。动态组件包括base_test模块、my_case模块、ENV模块、CONFIGURATION模块、agent模块、scoreboard模块、reference模块、driver模块和monitor模块。本发明采用UVM的方法学，使得验证效率更高、层次清晰，通过产生不同的测试用例和大量随机化测试，提高了验证的效率和可信程度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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