对基于扫描的测试减小扫描移位时局部级峰值功率的系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201310745669.9
IPC分类号：G01R31/303
申请日期：
2013-12-30
申请人：
辉达公司

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专利名称	对基于扫描的测试减小扫描移位时局部级峰值功率的系统
申请号	CN201310745669.9	申请日期	2013-12-30
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2014-07-09	公开/公告号	CN103913702A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/303 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/302 无触点测试〔5〕 G01R31/303 集成电路的（G01R 31/305至G01R 31/315优先）〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;0;3查看分类表>
申请人	辉达公司	申请人地址	美国加利福尼亚州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	辉达公司	当前权利人	辉达公司
发明人	米林得·索纳瓦乐;萨蒂亚·普瓦达;阿米特·桑加尼
代理机构	北京市磐华律师事务所	代理人	董巍;谢栒

摘要

提供了用于实施基于扫描的测试的方法。方法包括使用操作在第一频率的第一时钟信号将扫描数据从多个I/O端口串行路由到集成电路的多个分区，其中每个分区包括多个内部扫描链。方法还包括并行化扫描数据以供应到内部扫描链中。此外，方法包括使用第一时钟信号来生成操作在第二频率的多个第二时钟信号，其中每个分区分别接收多个第二时钟信号中相应的一个并且其中多个第二时钟信号被交错，其中每个在不同的时间实施脉冲。最后，方法包括以第二频率将扫描数据移入到多个分区的内部扫描链中。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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