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控片量测方法及量测装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110108391.9
  • IPC分类号:H01L21/67
  • 申请日期:
    2021-01-27
  • 申请人:
    长鑫存储技术有限公司
著录项信息
专利名称控片量测方法及量测装置
申请号CN202110108391.9申请日期2021-01-27
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-06-04公开/公告号CN112908898A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/67IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;6;7查看分类表>
申请人长鑫存储技术有限公司申请人地址
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人长鑫存储技术有限公司当前权利人长鑫存储技术有限公司
发明人朱贺
代理机构上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙)代理人孙佳胤;陈丽丽
摘要
本发明涉及一种控片量测方法及量测装置。所述控片量测方法包括如下步骤:固定一产品片,所述产品片上具有若干对准标记以及与所述对准标记分别对应的产品量测位点;根据所述对准标记确定所述产品量测位点;放置控片,所述控片在竖直方向上的投影与所述产品片对准重合。本发明可以减少甚至是消除所述控片在测量过程中的位置误差,使得所述控片的量测位置精度可以达到产品级别,从而能够更好的对量测机台本身以及制程变化进行监控。

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