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采用全息法测量天线面精度的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201110130024.5
  • IPC分类号:G01R29/10
  • 申请日期:
    2011-05-18
  • 申请人:
    中国科学院上海天文台
著录项信息
专利名称采用全息法测量天线面精度的方法
申请号CN201110130024.5申请日期2011-05-18
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2012-11-21公开/公告号CN102788909A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R29/10IPC分类号G;0;1;R;2;9;/;1;0查看分类表>
申请人中国科学院上海天文台申请人地址
上海市徐汇区南丹路80号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院上海天文台当前权利人中国科学院上海天文台
发明人王锦清;江永琛;虞林峰;赵融冰;范庆元;洪晓瑜;沈自强
代理机构上海智信专利代理有限公司代理人邓琪
摘要
本发明提供了一种采用全息法测量天线面精度的方法,包括:提供一参考天线和一单点频的信号源;分别接收来自信号源的信号并输入到相关机中实时解算接收的两路信号源信号的互相关相位差;提供一参考信号;分别接收所述参考信号并输入到相关机中实时解算接收的两路参考信号的互相关相位差;两路信号源信号的互相关相位差减去两路参考信号的互相关相位差得到一差分量;对差分量进行二维傅里叶逆变换从而获得被测天线的天线面精度分布。与常规的全息测量技术相比,采用这种提高相位准确性的方法,可以有效提高全息测量的精度,并且可以有效分离空间传播误差、接收系统误差。并且对于任何卫星信号都可以用于全息测量,提高了全息测量的工程实现性。

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