一种基于景深融合的光学投影断层成像图像获取方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310199983.1
IPC分类号：G01N21/17
申请日期：
2013-05-27
申请人：
中国科学院自动化研究所

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著录项信息

专利名称	一种基于景深融合的光学投影断层成像图像获取方法
申请号	CN201310199983.1	申请日期	2013-05-27
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-09-18	公开/公告号	CN103308452A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/17 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;1;7查看分类表>
申请人	中国科学院自动化研究所	申请人地址	北京市海淀区中关村东路95号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院自动化研究所	当前权利人	中国科学院自动化研究所
发明人	田捷;郭进;董迪;杨鑫;马喜波;杨玉洁
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	宋焰琴

摘要

本发明公开了一种基于景深融合的光学投影断层成像图像获取方法，其包括：步骤1、通过在同一旋转角度下，移动样本与显微装置的相对位置，采集不同聚焦位置上的二维图像序列；步骤2、在所述二维图像序列中，选取每个像素位置在该二维图像序列中最清晰的点进行合成，生成全景深图。本发明可实现光学投影断层成像系统采集的不同聚焦位置图像融合，得到的全景深图像用于三维重建，提高了三维图像的分辨率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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