发光器件检查设备和方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201210088731.7
IPC分类号：G01R31/02;G01M11/02;G01N21/88
申请日期：
2012-03-29
申请人：
三星LED株式会社

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	发光器件检查设备和方法
申请号	CN201210088731.7	申请日期	2012-03-29
法律状态	放弃专利权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-10-17	公开/公告号	CN102735982A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/02 对电设备、线路或元件进行短路、断路、泄漏或不正确连接的测试	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;2;;;G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;1;N;2;1;/;8;8查看分类表>
申请人	三星LED株式会社	申请人地址	韩国京畿道水原市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	三星电子株式会社	当前权利人	三星电子株式会社
发明人	池元秀;朴大绪;金秋浩
代理机构	北京铭硕知识产权代理有限公司	代理人	王占杰;韩芳

摘要

本发明提供了一种用于检查发光器件的特性的发光器件检查设备，所述发光器件包括发射光的一个或多个发光单元，所述发光器件检查设备包括：探测单元，具有工作台和探针，所述发光器件安装在所述工作台上，所述探针向所述发光器件供给电流；图像获取单元，用于获取所述发光器件的图像；以及确定单元，用于通过从所述图像的亮度信息检测所述一个或多个发光单元的发光来确定所述发光器件的开路/短路缺陷。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供