一种散体颗粒碰撞落点分布和碰撞恢复系数测量装置及测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710340902.3
IPC分类号：G01N15/00;G01N3/52
申请日期：
2017-05-15
申请人：
浙江工业大学

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著录项信息

专利名称	一种散体颗粒碰撞落点分布和碰撞恢复系数测量装置及测量方法
申请号	CN201710340902.3	申请日期	2017-05-15
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2017-09-08	公开/公告号	CN107144500A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N15/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N15/00 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积（微生物的识别入C12Q）〔1，4，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;5;/;0;0;;;G;0;1;N;3;/;5;2查看分类表>
申请人	浙江工业大学	申请人地址	浙江省杭州市下城区潮王路18号浙江工业大学科技处变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江工业大学	当前权利人	浙江工业大学
发明人	朱良友;赵云华;钟英杰;祁亚茹
代理机构	杭州赛科专利代理事务所（普通合伙）	代理人	伍华荣

摘要

本发明涉及农业领域，尤其是一种散体颗粒测试装置。本发明中的一种散体颗粒碰撞落点分布和碰撞恢复系数测量装置，包括落料机构、撞击机构、落料收集机构和分析机构；撞击机构位于落料机构下方，落料机构用于将待测量的颗粒从高处放入撞击机构，落料机构设有与待测量颗粒粒径配合的落料孔；撞击机构将落料机构流出的颗粒碰撞到落料收集机构中，落料收集机构位于颗粒碰撞后的落料处，落料收集机构用于对撞击机构出来的颗粒进行分类收集，分析机构用于对落料机构中的颗粒进行定量分析。方便对散体颗粒进行碰撞落点分布和碰撞恢复系数进行测量，结构简单，使用方便。

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