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一种集成电路分选机测试装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201520731943.1
  • IPC分类号:B07C5/02
  • 申请日期:
    2015-09-21
  • 申请人:
    杭州长川科技股份有限公司
著录项信息
专利名称一种集成电路分选机测试装置
申请号CN201520731943.1申请日期2015-09-21
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B07C5/02IPC分类号B;0;7;C;5;/;0;2查看分类表>
申请人杭州长川科技股份有限公司申请人地址
浙江省杭州市滨江区滨安路1197号6幢420室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人杭州长川科技股份有限公司当前权利人杭州长川科技股份有限公司
发明人鲍军其;赵轶;刘聪;韩笑
代理机构杭州杭诚专利事务所有限公司代理人尉伟敏
摘要
本实用新型涉及集成电路测试领域,目的是提供一种集成电路分选机测试装置。一种集成电路分选机测试装置,包括:上端设有横向面板的机架;所述的一种集成电路分选机测试装置还包括:设有位于横向面板上侧的横向导板的横向运动组件,两个竖滑轨,两个各通过一个竖滑轨与横向导板相对两侧端连接的升降立杆,两个各设有一个竖向导板的竖向运动组件,两个取放器,两个横滑轨;每个升降立杆的上端通过一个横滑轨与一个竖向导板连接;每个升降立杆的下端穿过横向面板与一个取放器连接。该集成电路分选机测试装置受力对称,当测试压力较大时不易产生变形,延长使用寿命。

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