半导体测试分选机变温测试装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200320120458.8
IPC分类号：--
申请日期：
2003-11-07
申请人：
江阴新潮科技集团有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	半导体测试分选机变温测试装置
申请号	CN200320120458.8	申请日期	2003-11-07
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	江阴新潮科技集团有限公司	申请人地址	江苏省江阴市滨江开发区澄江东路99号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	江阴新潮科技集团有限公司	当前权利人	江阴新潮科技集团有限公司
发明人	王新潮;季少武
代理机构	江阴市同盛专利事务所	代理人	唐纫兰

摘要

本实用新型涉及一种半导体测试分选机变温测试装置，它是将除气缸外的测试机构置于一密封腔内，该密封腔分对合的上、下两半部分1、11，下半部分11安装除气缸外的测试机构，而上半部分1则安装半导体制冷器2构成半导体空调器。该装置是将普通分选机的开放测试区设计成密封的环境可控测试区，以达到改变半导体元件在测试时的温度。它采用了半导体制冷器的工作原理，在测试时可以根据所需要求来设定温度，同时完成半导体元件的定位、夹持等动作，以实现对电气性能的测试。能满足半导体元件在常温、高温或者低温条件下进行测试的要求。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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