有色金属加工质量控制中的产品表面缺陷检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200910050457.2
IPC分类号：G01N21/88;G06T7/00
申请日期：
2009-04-30
申请人：
上海交通大学

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著录项信息

专利名称	有色金属加工质量控制中的产品表面缺陷检测方法
申请号	CN200910050457.2	申请日期	2009-04-30
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-09-30	公开/公告号	CN101545868
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/88 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;8;;;G;0;6;T;7;/;0;0查看分类表>
申请人	上海交通大学	申请人地址	上海市闵行区东川路800号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海交通大学	当前权利人	上海交通大学
发明人	翟鸣;罗新斌;傅山;敬忠良
代理机构	上海交达专利事务所	代理人	王锡麟;王桂忠

摘要

一种有色金属加工质量控制系统中对产品表面缺陷进行检测的方法，采用常速模型对图像从上到下，从下到上，从左到右，从右到左，四个方向每行每列对应设置的一个卡尔曼滤波器设定初始像素值；利用步骤一中的初始像素值使用卡尔曼滤波器对图像进行四个方向的滤波，在对每行每列进行滤波的同时利用来自于每个滤波器在每个位置的测量残差μ(k)计算并保存该位置的ξ(k)；将四个方向分别计算得到的相同位置的ξ(k)求和，将结果与由人工选取的域值进行二值化操作得到缺陷模版。本方法只需人工根据经验和检测效果确定两个参数，使用简单。本方法计算量与使用阈值的方法在同一数量级，能够应用于实时在线的情况。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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