频率稳定性谐振腔及其补偿体高度的获得方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201510530595.6
IPC分类号：H01P7/06;H01P1/30
申请日期：
2015-08-26
申请人：
电子科技大学

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著录项信息

专利名称	频率稳定性谐振腔及其补偿体高度的获得方法
申请号	CN201510530595.6	申请日期	2015-08-26
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2015-11-18	公开/公告号	CN105071010A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01P7/06 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01P 波导；谐振器、传输线或其他波导型器件（工作在光频的入G02B） H01P7/00 波导型谐振器 H01P7/06 空腔谐振器	IPC分类号	H;0;1;P;7;/;0;6;;;H;0;1;P;1;/;3;0查看分类表>
申请人	电子科技大学	申请人地址	四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	电子科技大学	当前权利人	电子科技大学
发明人	曾成;杨聪聪;陈柳;宁俊松;补世荣
代理机构	成都宏顺专利代理事务所（普通合伙）	代理人	周永宏;王伟

摘要

本发明公开了一种频率稳定性谐振腔及其补偿体高度的获得方法，该频率稳定性谐振腔包括腔体和补偿体；腔体内部中空，构成谐振腔的上底面和至少一个侧面；补偿体位于腔体内，构成谐振腔的下底面。本发明提供的频率稳定性谐振腔，通过合理的选择补偿体材料以及设置补偿体的尺寸，可以提高谐振腔的频率稳定性；补偿体材料可以选择易于加工且价格便宜的材料，这样就可以实现采用易于加工的材料制作高频率稳定性谐振腔的目的，并且有效的降低了谐振腔的制作成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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