多解析度的电荷耦合器件检测装置

发明专利无效专利

申请号：
CN01116613.4
IPC分类号：--
申请日期：
2001-04-12
申请人：
虹光精密工业股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	多解析度的电荷耦合器件检测装置
申请号	CN01116613.4	申请日期	2001-04-12
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2002-11-13	公开/公告号	CN1379587
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	虹光精密工业股份有限公司	申请人地址	台湾省新竹科学园区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	虹光精密工业股份有限公司	当前权利人	虹光精密工业股份有限公司
发明人	陈琰成
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	黄敏

摘要

一种多解析度的电荷耦合器件检测装置，包括光传感元件组、移位门、与多个CCD移位寄存器。移位门包括有多个切换器，这些切换器是用以接收由光传感元件组输出的电荷信号，并针对不同解析度的扫描，将电荷信号输出至多个CCD移位寄存器之一，以得到不同解析度的扫描影像。本发明可节省面积、降低成本、并增加低解析度的扫描的扫描速度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供