基于光谱共焦的胶体三维重建与厚度测量方法和系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202010070038.1
IPC分类号：G01B11/06;G01B11/24
申请日期：
2020-01-21
申请人：
武汉工程大学

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著录项信息

专利名称	基于光谱共焦的胶体三维重建与厚度测量方法和系统
申请号	CN202010070038.1	申请日期	2020-01-21
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-06-05	公开/公告号	CN111238383A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先） G01B11/06 用于计量厚度	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;6;;;G;0;1;B;1;1;/;2;4查看分类表>
申请人	武汉工程大学	申请人地址	湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉工程大学	当前权利人	武汉工程大学
发明人	洪汉玉;石教炜;章秀华;赵卿松;赵书涵;王朋;李兴珣;徐洋洋
代理机构	湖北武汉永嘉专利代理有限公司	代理人	杨晓燕

摘要

本发明提供了基于光谱共焦的胶体三维重建与厚度测量方法和系统，包括光谱共焦传感器、三轴移动平台、点云模块、点云数据处理模块和输入输出模块；通过光谱共焦结合三轴移动平台采集微件涂胶胶体的纳米级距离数据结合形成有序的三维点云数据，对点云数据进行校正无效点、Z轴翻转、伪彩映射、网格化和平滑的处理并更新三维点云，计算检测到的光的焦点到紫光的焦点之间的距离，实现了实时、直观地测量所需微件胶体的厚度的功能，且经过试验验证，测量精度达到了纳米级。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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