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一种极紫外光学元件表面污染清洗装置及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510963031.1
  • IPC分类号:B08B11/00;B08B7/00;B08B13/00
  • 申请日期:
    2015-12-21
  • 申请人:
    中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
著录项信息
专利名称一种极紫外光学元件表面污染清洗装置及方法
申请号CN201510963031.1申请日期2015-12-21
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2016-12-21公开/公告号CN106238427A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B08B11/00IPC分类号B;0;8;B;1;1;/;0;0;;;B;0;8;B;7;/;0;0;;;B;0;8;B;1;3;/;0;0查看分类表>
申请人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请人地址
吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所当前权利人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人邓文渊;金春水;姚舜;喻波;靳京城
代理机构深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)代理人郝明琴
摘要
本发明涉及极紫外光刻技术领域,具体公开一种极紫外光学元件表面清洗装置及清洗方法。本发明的极紫外光学元件表面污染清洗装置包括清洗腔体;设置于清洗腔体外两侧的进气口和出气口;设置于清洗腔体内的样品支撑调节台、紫外光发生装置、CO2浓度监控装置、O3浓度监控装置;还包括工作气体控制装置、控制电路以及控制终端。本发明清洗装置和清洗方法,能有效实现极紫外光学元件表面污染的彻底清洗,同时防止极紫外光学元件表面发生氧化,提高极紫外光学元件潜在的长期使用寿命;能够保证排出气体的安全性,降低清洗过程对实验室环境和实验人员安全健康的影响。

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