自动分析装置及其支援系统

发明专利有效专利

申请号：
CN200980152680.6
IPC分类号：G01N35/00
申请日期：
2009-12-04
申请人：
株式会社日立高新技术

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	自动分析装置及其支援系统
申请号	CN200980152680.6	申请日期	2009-12-04
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2011-11-30	公开/公告号	CN102265162A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N35/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N35/00 不限于用G01N 1/00至G01N 33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;3;5;/;0;0查看分类表>
申请人	株式会社日立高新技术	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社日立高新技术	当前权利人	株式会社日立高新技术
发明人	村田寿实子;涩谷敏;中村和弘
代理机构	北京银龙知识产权代理有限公司	代理人	张敬强;李家浩

摘要

本发明提供一种自动分析装置及其支援系统。自动分析装置存在下述情况：在对需要进行再度分析的标准液和精度管理的试样在分析中进行指定来进行下一分析的情况下，至指定试样需要花费时间。自动分析装置具备显示单元，该显示单元显示能够标识标准试样或者精度管理试样的测定状况的标识符，并且该显示单元具备追随各所述试样测定状况的变化来切换标识符的显示的功能，操作者能够立即认知分析中使用的试样，能够缩短至下一分析的时间。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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