不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201720629924.7
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2017-06-02
申请人：
西安北方光电科技防务有限公司

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著录项信息

专利名称	不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置
申请号	CN201720629924.7	申请日期	2017-06-02
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	西安北方光电科技防务有限公司	申请人地址	陕西省西安市长乐中路35号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安北方光电科技防务有限公司	当前权利人	西安北方光电科技防务有限公司
发明人	闫博;梁小伟;纪茹;张小玲;王剑
代理机构	西安吉盛专利代理有限责任公司	代理人	张恒阳

摘要

本实用新型涉及一种不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率测量装置，至少包括光源、平行光管、曲面镜、偏轴镜片组件、测量显微镜，光源在平行光管的前端,在光源和平行光管之间的物镜焦平面处有玻罗板或鉴别率板提供物方像面,曲面镜在平行光管的出口侧,光源照射的物方像面通过平行光管出射平行光束，由曲面镜接收,经过偏轴镜片组件进入像方成像面的测量显微镜，利用测量显微镜进行读数和测量。本实用新型能提高测量不共轴光学系统焦距、后截距和鉴别率的质量。并能提高装调效率，减轻装调人员的劳动强度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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