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一种变掺杂变组分的AlGaNGaN中子探测器

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201710095598.0
  • IPC分类号:H01L31/0304;H01L31/118;H01L31/18
  • 申请日期:
    2017-02-22
  • 申请人:
    东华理工大学
著录项信息
专利名称一种变掺杂变组分的AlGaNGaN中子探测器
申请号CN201710095598.0申请日期2017-02-22
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-05-24公开/公告号CN106711250A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L31/0304IPC分类号H;0;1;L;3;1;/;0;3;0;4;;;H;0;1;L;3;1;/;1;1;8;;;H;0;1;L;3;1;/;1;8查看分类表>
申请人东华理工大学申请人地址
江西省抚州市学府路56号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人东华理工大学当前权利人东华理工大学
发明人汤彬;朱志甫;邹继军;王盛茂;邓文娟;彭新村
代理机构江西省专利事务所代理人胡里程
摘要
本发明公开一种变掺杂变组分AlGaN/GaN中子探测器,为PIN结构,以自支撑n型GaN作为衬底,在衬底上利用金属有机物化学气相沉积技术顺序生长变掺杂变组分n型AlGaN层、未掺杂GaN层和p型GaN层;在p型GaN和n型衬底上沉积金属并做退火处理形成欧姆接触电极;在p型GaN层上沉积10BC4或6LiF作为中子转换层。AlGaN/GaN变掺杂变组分结构内部具有内建电场,当中子照射到10BC4或6LiF后发生核反应产生α粒子,α粒子电离AlGaN/GaN产生电子空穴对,该电场驱动电子、空穴分别向n型和p型电极两端定向运动,有利于收集效率的提高和漏电流的减小,从而提高了中子探测器的灵敏度以及探测效率。

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